測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：10-20 2023 來自：祥宇精密
一、原理
影像測量儀是一種利用數字成像技術來進行尺寸測量的設備。它通常由光源、光學成像系統、圖像采集器和數據處理裝置等部分組成。通過光源照射被測物體表面，使得表面反射的光線進入成像系統，形成物像。然后，圖像采集器會采集這個物像，將其轉換成數字信號，最后經過數據處理裝置的處理，得到準確的尺寸數據。
而顯微鏡則是一種利用光學原理來進行放大觀察的設備。它通常由目鏡、物鏡和聚光器等部分組成。通過調節物鏡和目鏡的焦距，使得被觀察的物體放大并清晰地顯示在目鏡的焦平面上。
二、用途
影像測量儀主要用于尺寸測量和形貌分析等領域。它可以對各種類型的物體進行測量，包括金屬、塑料、陶瓷等材料制成的零件、模具、工藝品等。同時，影像測量儀還可以用于質量控制、工藝改進等方面，幫助企業提高生產效率和質量水平。
顯微鏡則主要用于觀察和研究微觀世界中的物質結構和形態。它可以用于生物學、化學、物理學等領域的研究。顯微鏡可以放大物體，使得研究者可以更加清晰地觀察和了解被研究對象的細節。
三、結構
影像測量儀和顯微鏡在結構上也有很大的區別。影像測量儀通常由光源、成像系統和圖像處理裝置等部分組成，結構較為簡單。而顯微鏡則主要由物鏡、目鏡和聚光器等部分組成，結構較為復雜。
四、聯系與區別
雖然影像測量儀和顯微鏡在原理、用途和結構上都有很大的不同，但它們之間也有一些聯系。首先，它們都是測量工具，都可以用于尺寸測量和形貌分析等領域。其次，它們都可以用于觀察和研究微觀世界中的物質結構和形態，滿足人們的不同需求。最后，影像測量儀和顯微鏡都需要精確的光學系統來實現放大或觀察，因此它們的精度和穩定性也有很大的相似之處。
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